金属夹层对Ge/GaAs(100)能带偏离影响的研究 |
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引用本文: | 徐彭寿,朱警生.金属夹层对Ge/GaAs(100)能带偏离影响的研究[J].真空科学与技术,1996,16(2):121-125. |
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作者姓名: | 徐彭寿 朱警生 |
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作者单位: | [1]中国科技大学国家同步辐射实验室 [2]中国科技大学结构分析开放实验室 |
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摘 要: | 用光电发射的方法研究了碱金属Na和碱土金属Mg对Ge.GaAs(100)异质结构形成及能带偏离的影响。实验结果表明,Na和Mg的薄夹层可使Ge/GaAs(100)的价带偏离分别增加0.19和0.18eV。通过Na,Mg和Al夹层的对比研究,可认为金属夹层对异质结能带偏离的影响与金属的电负性及其与衬底的相互作用有关。
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关 键 词: | 金属夹层 半导体 异质结 能带偏离 砷化镓 锗 |
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