用相位法捕捉白光干涉动态“零次”条纹峰值位置的光电原理期刊界 All Journals 搜尽天下杂志传播学术成果专业期刊搜索期刊信息化学术搜索

用相位法捕捉白光干涉动态“零次”条纹峰值位置的光电原理

作者姓名：	李茂山

摘要：	一、引言精密计量技术中有不少测试手段利用白光源的双光束干涉仪,它是利用两束相干光在等光程条件下产生“零次”无色条纹的物理特性,作为测长定位手段。例如应用在量块比长的乌氏干涉仪;精密
本文献已被 CNKI 等数据库收录！