| 基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计 |
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| 引用本文： | 卜小帷,詹惠琴. 基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计[J]. 电子质量, 2010, 0(8): 18-20 |
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| 作者姓名： | 卜小帷 詹惠琴 |
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| 作者单位： | 电子科技大学自动化学院,四川,成都,611731 |
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| 摘 要： | 介绍了批量生产流程中半导体分立元件测试系统的结构组成,以及半导体分立元件分选机的基本工作方式,在此基础之上研究并设计了接口信号可随意设定的分选机控制系统。该系统具有较强的适用性,可以应用于各种不同种类的半导体分立元件分选机;同时该系统还具有一定的功能扩展性。实验表明该分选机控制系统可以适用于不同类型分选机,通信质量有效可靠,达到预期设计目的。
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| 关 键 词： | 半导体分立元件测试 半导体分立元件分选机 现场可编程逻辑阵列 Verilog硬件描述语言 |
Design of the IC Selecting Machine Control System Based on FPGA |
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| Bu Xiao-wei,Zhan Hui-qin. Design of the IC Selecting Machine Control System Based on FPGA[J]. Electronics Quality, 2010, 0(8): 18-20 |
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| Authors: | Bu Xiao-wei Zhan Hui-qin |
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| Affiliation: | Bu Xiao-wei,Zhan Hui-qin(School of Automation,University of Electronic Science and Technology of China,Sichuan Chengdu 611731) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Integrate circuit testing IC selecting machine FPGA Verilog HDL |
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