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| 模块结构的SOC集成电路测试系统 | |
| 引用本文： | 钟信.模块结构的SOC集成电路测试系统[J].电子测试,2001(4):196-198. |
| 作者姓名： | 钟信 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 根据不完全的统计,从1980年代开始集成电路的工艺快速更新换代,集成度按摩尔定律每18个月增加一倍,此增长势头将会延续至2010年。相应生产每晶体管成本从0.5美分下降至200年的0.001美分,而测试每个晶体管成本只从0.4 |
| 关 键 词： | 模块结构 芯片系统 集成电路测试系统 SOC |
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