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| MCT晶体非平衡载流子寿命测量方法 | |
| 引用本文： | 邵式平,杨彦.MCT晶体非平衡载流子寿命测量方法[J].红外技术,1989,11(4):37-42. |
| 作者姓名： | 邵式平 杨彦 |
| 作者单位： | 昆明物理研究所 (邵式平)，昆明物理研究所(杨彦) |
| 摘 要： | 非平衡载流子寿命是HgCdTe(MCT)晶体的主要性能参数之一。本文着重介绍了三种基本测量方法:直流光电导衰退法,光电导与光磁电比值法,红外吸收的光调制法。叙述了测量原理和基本测试设备,比较了三种测量方法的优缺点。 |
| 关 键 词： | HgCdTe晶体 载流子 寿命 测量 |
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