首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
典型电子器件中子和总剂量辐照协同损伤研究
作者姓名:
朱小锋
许献国
刘珉强
作者单位:
Institute of Electronic Engineering,China Academy of Engineering Physics,Mianyang Sichuan 621999,China
基金项目:
抗辐射加固预先研究资助项目(41411030101)
摘 要:
研究了几种典型电源类电子器件的中子和总剂量辐射效应,包括单总剂量效应、单中子辐射效应、总剂量和中子分时序贯辐照效应以及中子和总剂量同时辐照效应,分析了不同辐照条件下电子器件的失效中子注量(总剂量)阈值.试验结果显示,分时序贯、同时辐照试验给出的电子器件辐照失效阈值低,而单项辐射效应试验给出的失效阈值偏高.对于该类双极工...
关 键 词:
中子辐射效应
总剂量效应
协同效应
收稿时间:
2019-10-17
修稿时间:
2020-04-14
点击此处可从《太赫兹科学与电子信息学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《太赫兹科学与电子信息学报》下载
免费
的PDF全文
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号