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| 存储器的测试技术 | |
| 引用本文： | 王健,李金凤,边福强,刘欢. 存储器的测试技术[J]. 计量与测试技术, 2005, 32(4): 25-26 |
| 作者姓名： | 王健 李金凤 边福强 刘欢 |
| 作者单位： | 沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142;沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142;沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142;沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142 |
| 摘 要： | 集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器，字存储器，多端口存储器及存储器组的测试。测试算法和测试策略要在测试时间，故障覆盖率，面积开支之间进行折衷。 |
| 关 键 词： | 存储器测试 功能故障模型 March算法 BIST |
| 修稿时间： | 2005-03-02 |
Testing Techniques for Memories |
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