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半导体夹心谱仪测量裂变中子能谱的不确定度
引用本文:曾丽娜,郑春.半导体夹心谱仪测量裂变中子能谱的不确定度[J].原子能科学技术,2014,48(Z1).
作者姓名:曾丽娜  郑春
作者单位:中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳621900;中国工程物理研究院中子物理学重点实验室,四川绵阳 621900
基金项目:国家自然科学基金资助项目,中国工程物理研究院科学技术发展基金资助项目
摘    要:本文通过对中子能谱的不确定度的阐释,明确提出了中子能谱的不确定度应理解为能区份额或某一能量范围内中子注量(率)的不确定度。以6 Li夹心半导体中子谱仪测量CFBR-Ⅱ堆泄漏中子谱为例,对3个典型能区的中子注量率谱的不确定度进行了分析。当全谱中子注量率为3.00×107 cm-2·s-1时,0~20keV能区内的中子注量率为5.70+2.38-0.33×105 cm-2·s-1(不确定度中的包含因子k=1),0.59~0.61MeV能区内的中子注量率为(4.32±0.87)×105 cm-2·s-1(k=1),4.99~5.01MeV能区内的中子注量率为0.094+0.028-0.022×105 cm-2·s-1(k=1)。

关 键 词:中子能谱  不确定度  半导体夹心谱仪  中子注量率  裂变中子

Uncertainty of Neutron Spectra for Semiconductor Sandwich Spectrometer
ZENG Li-na,ZHENG Chun.Uncertainty of Neutron Spectra for Semiconductor Sandwich Spectrometer[J].Atomic Energy Science and Technology,2014,48(Z1).
Authors:ZENG Li-na  ZHENG Chun
Abstract:
Keywords:neutron spectra  uncertainty  semiconductor sandwich spectrometer  neutron fluence rate  fission neutron
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