Si_(0.5)Ge_(0.5)合金的热氧化物的研究 |
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引用本文: | 邢益荣,崔玉德,殷士端,张敬平,李侠,朱沛然,徐田冰.Si_(0.5)Ge_(0.5)合金的热氧化物的研究[J].半导体学报,1995,16(7):491-496. |
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作者姓名: | 邢益荣 崔玉德 殷士端 张敬平 李侠 朱沛然 徐田冰 |
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摘 要: | 利用卢瑟福背散射(RBS)、X光电子谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)分析,研究了Si0.5Ge0.5合金在1000℃下湿氧化所生成的氧化物的特征.结果表明:这种氧化物为双层结构.靠近表面的一层为(Si,Fe)Ox混合层,在其下面是纯的SiOx层,Ge被排斥并堆积在SiOx/Si0.5Ge0.5界面附近.在本实验条件下,(Si,Ge)Ox层的厚度约为2500A,它的形成时间不足5分种.当氧化的时间延长时,SiOx的厚度随之增加,但(Si,Ge)Ox的厚度几乎不变.还发现:在这些氧化物中,Si2p和Ge3
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