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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
PLD测试向量应用于IC测试
作者姓名:
余圣发 董兆鑫
摘 要:
专用芯片的测试通常对于一般用户是不可能的,但又是非常必要的,本文讲述了以ALL-03通用编程器为基础对某些专用芯片进行测试的原理和方法。
关 键 词:
集成电路 测试 可编程逻辑器件
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