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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
RISC-V架构的交叉调试系统设计
作者姓名:
陈龙震
徐康民
徐天骅
张铆
作者单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
摘 要:
为了满足自研芯片配套集成开发环境的需求,自主设计了一套主要由Eclipse、GDB、OpenOCD组成的集成开发环境方案。进一步,选定RISC-V架构的RAC102芯片作为调试目标,在驱动适配和操作系统仿真的基础上,通过对GDB和OpenOCD进行定制化编译、调试和移植,实现了基于RISC-V架构的交叉调试系统。最后,在此方案实现的交叉调试系统中进行GDB调试命令以及对应远程通信协议的分析,在验证交叉调试系统功能正确性的同时,详细说明了各个调试命令对应的远程通信协议数据包集合。
关 键 词:
集成开发环境
RISC-V
RAC102
GDB
OpenOCD
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