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基于灰色理论的电子设备寿命预测研究
引用本文:李竞,慕晓冬,尹宗润,李毅,郑帅.基于灰色理论的电子设备寿命预测研究[J].微计算机信息,2009,25(10).
作者姓名:李竞  慕晓冬  尹宗润  李毅  郑帅
作者单位:西安,第二炮兵工程学院,陕西,710025  
摘    要:利用灰色GM(1,1)模型预测可以有效缩短电子设备寿命试验时间,传统建模方法常常会有较大误差,主要因为序列光滑度的改进及背景值的构造存在问题.本文提出一种方法,采用正弦处理建模序列,对背景值进行近似构造,最终建立相应的新陈代谢模型.实例表明改进后的GM(1,1)模型,具有更高的预测精度,可以在电子设备的试验中推广应用.

关 键 词:电子设备  序列光滑度  背景值  新陈代谢GM(1  1)模型

Research of Lifetime Prediction of Electronic Equipment Based on Grey Theory
LI Jing,MU Xiao-dong,YIN Zong-run,LI Yi,ZHENG Shuai.Research of Lifetime Prediction of Electronic Equipment Based on Grey Theory[J].Control & Automation,2009,25(10).
Authors:LI Jing  MU Xiao-dong  YIN Zong-run  LI Yi  ZHENG Shuai
Abstract:
Keywords:
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