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多晶硅薄膜材料参数的在线测试系统
引用本文:刘祖韬,黄庆安,李伟华. 多晶硅薄膜材料参数的在线测试系统[J]. 中国机械工程, 2005, 16(Z1): 427-429
作者姓名:刘祖韬  黄庆安  李伟华
作者单位:东南大学MEMS教育部重点实验室,南京,210096
基金项目:国家863高技术研究发展计划资助项目(2003AA404010)
摘    要:建立了一套多晶硅薄膜材料参数的在线测试系统.系统包括测试结构物理版图、测试设备和计算软件,能够在线测试多晶硅薄膜的主要材料参数,且测试设备和测试方法都与集成电路测试相兼容,即所有物理量的测试都转化为电学量的测量,整个测试过程完全由计算机控制完成.

关 键 词:多晶硅  薄膜  材料参数  在线测试
文章编号:1004-132X(2005)S1-0427-03
修稿时间:2005-03-18

Measurement System for In Situ Extracting Material Parameters of Polysilicon Film
Liu Zutao,Huang Qingan,Li Weihua. Measurement System for In Situ Extracting Material Parameters of Polysilicon Film[J]. China Mechanical Engineering, 2005, 16(Z1): 427-429
Authors:Liu Zutao  Huang Qingan  Li Weihua
Abstract:
Keywords:
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