通用微处理器功能测试序列自动生成系统

本文介绍一种用于微处理器功能测试的测试序列自动生成系统(简称μP)测试序列生成系统或μp自动测试生成系统)。该系统能对各种不同类型的微处理器产生功能测试序列。系统采用结构化程序设计的原则,对各种不同的μp测试算法都具有较强的适应性。用户只要按照一定的描述规则输入某种μp的指令系统,该系统将解释用户输入并产生该μp的功能测试序列。生成的测试序列可以是汇编符号形式,也可以是机器代码形式,还可以是汇编符号和机器代码的对照形式。该系统已研制完毕,并对8085,6800,6502,Z80等数种常见芯片产生了功能测试序列,用于我们研制的MP—8—TS通用微处理器功能测试仪上,效果良好。