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| 全反射X射线荧光分析法 | |
| 作者姓名： | 胡舜媛 |
| 摘 要： | 【《瑞士原子能协会通报》1995年第10期第9页报道】 所谓全反射X射线荧光分析法(TXRF)是传统的X射线荧光分析的改型。它对物体表面具有极高的灵敏度。使用这种方法时,化学元素经X射线激发后产生一种对其具有特征的荧光辐射。为了这一方 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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