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Capacitance-voltage characterization of fully silicided gated MOS capacitor
Authors:Wang Baomin  Ru Guoping  Jiang Yulong  Qu Xinping  Li Bingzong     Liu Ran
Affiliation:State Key Laboratory of ASIC and System;Department of Microelectronics;Fudan University;Shanghai 200433;China
Abstract:FUSI C-V photonic high-frequency C-V MOS capacitor model
Keywords:FUSI  C-V  photonic high-frequency C-V  MOS capacitor model
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