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内部压力不均对压接式IGBT器件电热特性的影响分析
作者姓名:周静  康升扬  李辉  姚然  李金元
作者单位:输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学) 重庆 400044;全球能源互联网研究院 北京 102209
基金项目:国家重点研发计划;国家自然科学基金
摘    要:

关 键 词:压接式IGBT  压力不均  电热分布  并联芯片  模拟
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