| 大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法 |
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| 引用本文： | 徐拾义. 大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法[J]. 计算机工程与科学, 2005, 27(4): 31-35 |
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| 作者姓名： | 徐拾义 |
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| 作者单位： | 上海大学计算机学院,上海,200072 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(60173029)，上海市教委第四期重点学科资助项目 |
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| 摘 要： | 本文提出了一种对VLSI电路功能测试的方法，可以同时检测和定位VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障，而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而，对于简化测试过程、降低测试成本，具有十分重要的实际意义。
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| 关 键 词： | 功能测试 固定故障 桥接故障 标准输入矩阵 待定输入矩阵 |
| 文章编号： | 1007-130X(2005)04-0031-05 |
| 修稿时间： | 2004-05-10 |
A Novel Method of Standard Matrix Function Testing for Large Scale Digital Integrated Circuits |
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| XU Shi-yi. A Novel Method of Standard Matrix Function Testing for Large Scale Digital Integrated Circuits[J]. Computer Engineering & Science, 2005, 27(4): 31-35 |
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| Authors: | XU Shi-yi |
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| Abstract: | This paper proposes a method for VLSI fun ction testing,which can simultaneously detect and locate the stuck-at faults of VLSI’s input/output pins and bridging faults without knowing their internal logic structures.Thus the method features significance in simplifying test process and reducing test cost. |
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| Keywords: | function test stuck-at fault bridging fault standard input matrix undecided input matrix |
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