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| 射线无损检测发展趋向 | |
| 引用本文： | Harold,B 孙永玲.射线无损检测发展趋向[J].无损检测,1996,18(11):328-330. |
| 作者姓名： | Harold B 孙永玲 |
| 摘 要： | 50年前,X射线和γ射线已被广泛应用在各个领域,时至今日,射线无损检测更是呈现出迅猛的发展势头,甚至这些学科的名称也发生了变化.以往大多数辐射检测方法均被称作射线照相,现在则统称为射线学,正如ASTM所定义的,射线学是“X射线,γ射线、中子和其它穿透辐射的科学和应用(ASTM E1316—92)”.射线照相则专门表示利用胶片或类似胶片的方法.实时成象检测技术则指电子方法,即“图象随着物体成象时间非常快速变化的方法(ASTM E1316—92)”.此外,射线学还包括层析射线照相法、背散射检测、测量方法和其它各种辐射检测方法.进入21世纪以后,上述各项技术将会进一步发展. |
| 关 键 词： | 无损检测 探伤 射线探伤 发展 |
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