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| X射线法检测GCr15轴承零件的回火缺陷 | |
| 作者姓名： | 朱光辉 |
| 作者单位： | 洛阳轴承(集团)公司 471039 |
| 摘 要： | GCr15轴承零件正常淬火后根据不同要求一般在150～180℃温度范围回火2.5～3h,由于主客观因素,导致回火缺陷,主要表现为回火不足或回火过度,以致硬度偏高或偏低,前者,通常进行两次回火,再测硬度降,后者主要以硬度值是否在标准范围内来判定.传统方法具破坏性,对成品或不能破坏的产品的检测实为不妥.目前.轴承零件回火缺陷的无损检测尚无良法.回火缺陷是材料显微组织未达要求,而X射线衍射线形属结构敏感量.本实验拟探讨用X射线半高宽检测GCr15轴承零件的回火缺陷. |
| 关 键 词： | 轴承 回火 缺陷 X射线 检测 |
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