首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

采用钯分离技术测定高纯氦,氖中痕量氢
作者姓名:赵敏  姜俊  查燕春  于艳洁
作者单位:化工部气体质量监测中心
摘    要:利用金属钯或钯合金对氢气独特的渗透能力,在特殊的实验装置及一定的操作条件下,将Ne或He中H2定量转移到Ar或N2气中,以气敏元件为检测器,实现对高纯Ne、He中痕量H2的测定,其检测限为0.1×10-6。

关 键 词:钯膜渗氢 痕量氢分析 气敏色谱
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号