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手持设备电源芯片的自动测试方案设计
引用本文:于天国, 田晓明, 徐臻峰, 张萌,.手持设备电源芯片的自动测试方案设计[J].电子器件,2008,31(2):457-460.
作者姓名:于天国  田晓明  徐臻峰  张萌  
作者单位:东南大学,电子工程系国家专用集成电路系统工程中心,南京,210096;东南大学,电子工程系国家专用集成电路系统工程中心,南京,210096;东南大学,电子工程系国家专用集成电路系统工程中心,南京,210096;东南大学,电子工程系国家专用集成电路系统工程中心,南京,210096
摘    要:为提高手持设备电源芯片的选型效率,提出了适合电源芯片的自动测试方案.通过分析手持设备各路电压的负载需求,筛选出电源芯片的测试项目;在分析传统电源芯片测试电路后,给出了软件和硬件电路的示意设计.基于LabVIEW平台,提出了同步数据采集、触发和存储功能的实现方案.AMC3100芯片的测试数据表明,既保证测试精度,测试效率又大幅提高.

关 键 词:电源  自动测试  LabVIEW  数据采集
文章编号:1005-9490(2008)02-0457-04
修稿时间:2007年6月6日

Power Chip Auto-Test Scheme Design Based on Portable Devices
YU Tian-guo,TIAN Xiao-ming,XU Zhen-feng,ZHANG Meng.Power Chip Auto-Test Scheme Design Based on Portable Devices[J].Journal of Electron Devices,2008,31(2):457-460.
Authors:YU Tian-guo  TIAN Xiao-ming  XU Zhen-feng  ZHANG Meng
Affiliation:YU Tian-guo,TIAN Xiao-ming,XU Zhen-feng,ZHANG Meng(National ASIC system Engineering Research Center,Southeast University,Nanjing 210096,China)
Abstract:To improve choose efficiency of power chip on portable devices,an auto-test scheme was presented.Based on the current demand of branch circuit,some effective test items on power chip first were chosen.After analyzing the traditional power chip test circuit,the hardware scheme and software scheme has been designed.Combined with the software of LabVIEW ;the scheme of synchronous data acquisition,trigger function and data store has also been designed.It can be seen from AMC3100 test data that auto-test scheme ...
Keywords:power  auto-test  LabVIEW  DAQ(data acquisition)  
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