航天部691厂CMOS中小规模集成电路的可靠性试验

CMOSIC长期可靠性试验数据处理统计一览表 l_。。_,_I、。、.I_I、。-.__1_。。_lopl% 信 ＄ M 606 i+ HI D电路型号I 试 验I参D试验累积【元器件1计D—’“”—””””’一D 11 fgr 厂“一IIRI G1丁”9I25℃下失效@l Gr’xu”gJ 工ZI’’小二纂l l___185D士Ztl 11 11_____1。__。_I IC45201 7二二二二7if。。。。。。l_。_1.l。。。。、。-。。。_、^-,135200 17605631 l一X“-IVll一!2V122I32001704001!IZ.84010”IS.68X10”l C二\5;;二$v\【 IUI.;Jr:’。Ir-l-l‘”””””’-“--”—”””-;《4W)(20lop)l I”i…