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| Ⅰ—Ⅴ变换器在光电探测器件测试中的应用 | |
| 引用本文： | 赵庆添.Ⅰ—Ⅴ变换器在光电探测器件测试中的应用[J].半导体光电,1982(2). |
| 作者姓名： | 赵庆添 |
| 摘 要： | 一、引言目前对光电探测器件的光谱响应范围,响应度、量子效率、噪声电流、暗电流等参数的测试中,都遇到如何正确测试其器件“短路”电流的问题。不论是PIN二极管,还是APD二极管,本质上是一个电流源。为使器件产生的信号电流与入射光通量之间保持良好线性关系,其器件必须在低的阻抗线路中工作,最好是采用Ⅰ—Ⅴ变换器的方法。本文仅以Si—RAPD的响应度、响应范围为 |
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