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一种基于AMBA总线的 NAND FLASH控制接口电路设计
引用本文:唐宇光,王镇,凌明.一种基于AMBA总线的 NAND FLASH控制接口电路设计[J].电子器件,2004,27(2):306-311.
作者姓名:唐宇光  王镇  凌明
作者单位:东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096
摘    要:NAND FLASH采用8根I/O信号线复杂的传送控制、地址和数据信息,其控制逻辑需要专门设计。该接口设计基于ARM 7TDMI核,AMBA AHB总线结构,支持1bit ECC校验和位宽转换。接口设计中的状态机由命令字发送状态组完成对NAND FLASH命令字发送,地址发送状态组完成写地址发送,读状态组完成读操作,写状态组完成写操作。该设计已通过仿真和芯片验证测试,功能符合NAND FLASH操作规范。

关 键 词:NAND  FLASH  AHB  接口模块  ECC校验
文章编号:1005-9490(2004)02-0306-06

Design of NAND FLASH Control Interface Based on AMBA General Bus
TANG Yu-Guang,WANG Zhen,LING Ming.Design of NAND FLASH Control Interface Based on AMBA General Bus[J].Journal of Electron Devices,2004,27(2):306-311.
Authors:TANG Yu-Guang  WANG Zhen  LING Ming
Abstract:NAND FLASH uses 8 I/O signallines to complicated transmit control, address and data information. so the interface is special. This design based on the ARM 7TDMI core, AMBA AHB general bus, supports 1 bit ECC verification and 1bit width conversion. The state machine consists of four state groups. Command state group fulfills the function of sending command to NAND FLASH. Address state group fulfills the function of sending address to NAND FLASH. Read state group fulfills reading function. Write state group fulfills writing function. After simulation and real chip function test, all functions accord with the NAND FLASH specification.
Keywords:NAND FLASH  AHB  interface module  ECC  
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