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| 集成电路老化测试插座的结构形式 | |
| 引用本文： | 肖颖,周庆平,余珺. 集成电路老化测试插座的结构形式[J]. 电子产品世界, 2011, 18(5): 45-48. DOI: 10.3969/j.issn.10O5-5517.2011.04.010 |
| 作者姓名： | 肖颖 周庆平 余珺 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第四十研究所; |
| 摘 要： | 集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。 |
| 关 键 词： | 集成电路 老化测试 插座 表面贴装 封装 |
Structured Configuratious for IC Burn-In Sockets |
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