双指数和振荡操作冲击电压下SF6气隙缺陷局部放电行为分析

为深入探索标准操作冲击及振荡操作冲击激励下绝缘内部气隙局部放电行为和产生机制,采用标准操作冲击(SI)和振荡操作冲击(OSI)作为激励源,对环氧树脂内部气隙缺陷的局部放电行为进行了试验研究,并在此基础上对冲击电压下的放电时延进行了统计与理论分析。试验研究发现:2种操作冲击电压下放电电流脉冲随施加电压的上升而呈现不同阶段特征;首次放电对后续放电的放电频率、幅值和分布等特征有显著的影响;将施加电场变化过程的影响引入放电时延理论计算中,对所得到的伏秒特性(U-t)曲线与试验统计分布进行比较,结果表明70%的统计结果分布在理论曲线的附近,解释了操作冲击激励下气隙放电行为的一般性规律。