扫描电子显微镜在磁记录技术中的应用研究

本文研究了扫描电子显微镜在磁记录技术中的应用.根据对磁粉在磁层表面分散性的观察表明,磁粉在磁胶里分散程度的好坏与磁带或软磁盘的矩形比是一一对应的,当分散好时矩形比就高;对磁粉取向表面均匀性的观察表明,取向度高的磁带,其磁粉取向表面均匀性并不一定好;在涂层厚度的测量中,通过对几种测厚方法的比较,认为用扫描电镜测量最为准确。