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片上系统在动态测试领域的应用探讨
引用本文:靳鸿,祖静.片上系统在动态测试领域的应用探讨[J].中北大学学报,2006,27(6):541-544.
作者姓名:靳鸿  祖静
作者单位:中北大学,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西,太原,030051;中北大学,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西,太原,030051
摘    要:在实时动态测试领域中,测试系统微型化是一个重要的研究方向.片上系统技术的发展,为降低系统体积、功耗提供了有效的技术手段.本文利用该技术对微型测试系统进行了研究,对包括SoC(System on Chip)单片机、基于FPGA(Field Programmable Gate Array)的SoPC(Systems on a Programmable Chip),SIP(System-in-package),ASIC(Application Specific Integrated Circuits)等片上系统技术在动态测试领域中的应用进行了探讨.设计了SoC单片机及SoPC在动态测试中的应用方案,并进行了试验测试.结果表明,片上技术能更好地完成动态测试.

关 键 词:动态测试  片上系统  专用集成电路  系统级封装  片上可编程系统
文章编号:1673-3193(2006)06-0541-04
修稿时间:2006年7月11日

The Application of SoC Technology in Dynamic Measurement
JIN Hong,ZU Jing.The Application of SoC Technology in Dynamic Measurement[J].Journal of North University of China,2006,27(6):541-544.
Authors:JIN Hong  ZU Jing
Abstract:System on Chip(SoC) offers a new technology for reducing the volume and power consumption of build-in measurement instruments,which draws interests of researchers in the field of real time dynamitic measurement.A research on the application of SoC in several tiny build-in measurement instruments like SoC micro-controller,Systems on a Programmable Chip(SoPC),System-in-Package(SIP),and Application Specific Integrated Circuits(ASIC) has been made.SoC micro-controller and SoPC circuits have been designed and tested.Experiments prove that SoC technology is suitable for dynamic testing.
Keywords:dynamic measurement  system on chip)  application specific integrated circuits  system-in-package  systems on a programmable chip
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