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圆片级IC测试中脱机打点的一种实现方法
引用本文:胡兆华,王厚军. 圆片级IC测试中脱机打点的一种实现方法[J]. 仪器仪表学报, 2005, 26(8): 2285-2286
作者姓名:胡兆华  王厚军
作者单位:电子科技大学自动化工程学院,成都,610054
摘    要:讨论了ICT测试中的脱机打点及其使用现状,介绍了一种基于C和C++ Builder实现的脱机打点方案,并对方案中各关键部分的实现流程进行了详细说明,最后得出了该方案可行的结论.

关 键 词:探针台  脱机打点  Map图

A Solution of Inking Progress Based on ICT
Hu Zhaohua,Wang Houjun. A Solution of Inking Progress Based on ICT[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2005, 26(8): 2285-2286
Authors:Hu Zhaohua  Wang Houjun
Abstract:
Keywords:
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