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| 一种数字IC测试系统的设计 | |
| 引用本文： | 廉海涛,张克农,王红雨,赵云鹏,常羽飞.一种数字IC测试系统的设计[J].电子产品世界,2004(3):67-69. |
| 作者姓名： | 廉海涛 张克农 王红雨 赵云鹏 常羽飞 |
| 作者单位： | 西安交通大学;西安交通大学;西安交通大学;西安交通大学;西安交通大学 |
| 摘 要： | 给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案.该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平. |
| 关 键 词： | 数字集成电路测试 功能测试 |
The Design of a Digital Integrated Circuit Test System |
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