| 材料表面覆盖层厚度无损测试技术 |
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| 引用本文： | 杨明太,吴伦强,张连平. 材料表面覆盖层厚度无损测试技术[J]. 核电子学与探测技术, 2008, 28(6) |
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| 作者姓名： | 杨明太 吴伦强 张连平 |
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| 作者单位： | 中国工程物理研究院,四川,绵阳,621900;中国工程物理研究院,四川,绵阳,621900;中国工程物理研究院,四川,绵阳,621900 |
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| 摘 要： | 综述了用于覆盖层厚度无损测量的电磁性法、涡流法、β背散射法和X射线荧光法的方法原理、适用范围及优缺点，并对相关仪器、厂商及仪器的发展趋势进行了评述。
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| 关 键 词： | 覆盖层厚度 电磁性法 涡流法 β背散射法 X射线荧光法 无损测量 |
Nondestructive testing technology for measurement coatings thickness on material |
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| YANG Ming-tai,WU Lun-qiang,ZHANG Lian-ping. Nondestructive testing technology for measurement coatings thickness on material[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 2008, 28(6) |
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| Authors: | YANG Ming-tai WU Lun-qiang ZHANG Lian-ping |
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