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针对一种多模式逻辑单元结构FPGA的工艺映射
引用本文:张琨,周华兵,陈陵都,刘忠立.针对一种多模式逻辑单元结构FPGA的工艺映射[J].计算机辅助设计与图形学学报,2009,21(10).
作者姓名:张琨  周华兵  陈陵都  刘忠立
作者单位:1. 中国科学院半导体研究所超晶格国家重点实验室,北京,100083
2. 中国科学院半导体研究所集成技术工程研究中心,北京,100083
摘    要:结合FPGA设计的特点,提出一种可灵活配置的多模式FPGA逻辑单元结构及对其进行工艺映射的工具VMAP.该工具中除了采用一般的工艺映射算法外,还结合逻辑单元结构特点提出了专门的合并优化算法.该算法基于图的最大基数匹配,将部分查找表进行合并,减小了映射结果的面积开销.实验结果表明.对于标准的测试电路,结合文中的逻辑单元结构和合并算法得到的工艺映射结果平均可以减少15.7%的基本逻辑单元使用个数.

关 键 词:多模式  逻辑单元  工艺映射  最大基数匹配  现场可编程门阵列

Technology Mapping for FPGA with Multi-mode Logic Cell
Zhang Kun,Zhou Huabing,Stanley L Chen,Liu Zhongli.Technology Mapping for FPGA with Multi-mode Logic Cell[J].Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics,2009,21(10).
Authors:Zhang Kun  Zhou Huabing  Stanley L Chen  Liu Zhongli
Abstract:
Keywords:
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