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| 嵌入式C代码释放后重用缺陷检测 | |
| 作者姓名： | 王亚昕 李孝庆 伍高飞 唐士建 朱亚杰 董婷 |
| 摘 要： | C代码中的释放后重用缺陷严重影响着嵌入式系统的鲁棒性与可靠性.针对此类漏洞的现有检测方案多针对于计算机系统及应用程序,无法为复杂多样的嵌入式程序提供支持.静态代码分析可以在没有代码运行环境的前提下进行代码缺陷检测.因此,基于LLVM编译框架设计了静态污点追踪方案,实现了针对释放后重用缺陷代码特征的自动化检测.实验结果证... |
| 关 键 词： | 嵌入式系统 C语言 释放后重用 代码缺陷检测 静态代码分析 |