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| 用π旋转型低密度奇偶校验码提升100Gb/s偏振复用差分正交相移键控光通信系统性能 | |
| 作者姓名： | 毕伟 席丽霞 张晓光 张文博 |
| 作者单位： | 毕伟:北京邮电大学信息光子学与光通信国家重点实验室， 北京 100876 席丽霞:北京邮电大学信息光子学与光通信国家重点实验室， 北京 100876 张晓光:北京邮电大学信息光子学与光通信国家重点实验室， 北京 100876 张文博:北京邮电大学信息光子学与光通信国家重点实验室， 北京 100876 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(61205065)、高等学校博士学科点专项科研基金(20110005110014) |
| 摘 要： | 将π旋转型低密度奇偶校验(LDPC)码应用于100Gb/s偏振复用差分正交相移键控(PDM-DQPSK)光通信系统中,进行了相应的数值仿真和性能分析比较,其中采用打孔技术得到了高码率的改进码型,并在纠错性能方面与原始码型进行了对比。在译码方面,推导了PDM-DQPSK系统的卡方统计模型,并与高斯统计模型进行了对比。结果表明,码率为0.5的π旋转型LDPC码在采用卡方统计信道概率模型时性能最佳,可使系统光信噪比(OSNR)在14.2dB时保证误码率(BER)在10-9以下;在2dB的OSNR代价情况下,系统可容忍102ps/nm的色度色散(CD)、18ps的一阶偏振模色散(PMD),以及4.88×10-2 rad的非线性引起的最大相位偏移,由此可知π旋转型LDPC码可以极大地提高高速光通信系统的传输可靠性。 |
| 关 键 词： | 光通信 π旋转型低密度奇偶校验码 偏振复用差分正交相移键控 前向纠错 信道概率模型 打孔技术 |
| 收稿时间： | 2013-07-16 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |