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| 光点与会聚测试系统的设备需求与配置 | |
| 引用本文： | 王琦龙 GerardvanVeldhoven 杨晓伟 李晓华 陈福朝.光点与会聚测试系统的设备需求与配置[J].真空科学与技术,2003,23(1):53-56. |
| 作者姓名： | 王琦龙 GerardvanVeldhoven 杨晓伟 李晓华 陈福朝 |
| 作者单位： | [1]东南大学电子工程系南京210018 [2]LG.PhilipsDisplayNetherlandsB.V. |
| 摘 要： | 光点测试和会聚测试是验证CPT电子枪偏转线圈性能的重要手段之一。本提出基于合理的测试方法、有效适当的测试设备，建立最佳的测试系统。针对光点测试和会聚测试系统中的各种设备，介绍它们的应用原理及应用效果，从而了解在测试CPT光点质量和会聚误差过程中测试系统的设计原理及设备配置原理。 |
| 关 键 词： | CPT电子枪 偏转线圈 性能 光点测试 会聚测试 设备 测试系统 |
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