适宜模拟SEU的总线级故障注入技术研究

适宜模拟SEU的故障注入技术是针对空间辐射在微电子器件中诱发单粒子翻转事件的，目的在于验证目标机的容错结构的合理性和容错手段的有效性，提高星上电子设备可靠性。本文从总线级故障注入的原理、故障注入系统结构、故障注入属性设置、故障注入硬件和软件等各个方面进行阐述，采用PCI总线技术、同步总线串行通信技术以及FPGA设计技术实现，并且以目标星载计算机、故障注入系统构建了测试验证环境，通过实践证明该故障注入原理的可实现性和可操作性。基于总线级的故障注入具有非破坏性、安全性、智能可配置和操作简单等特点，对于采用插装存储器的星载计算机系统，具有较高的应用价值。