| 基于扫描的集成电路故障诊断技术 |
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| 引用本文： | 陶丽芳,马琪,竺红卫. 基于扫描的集成电路故障诊断技术[J]. 现代电子技术, 2009, 32(1) |
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| 作者姓名： | 陶丽芳 马琪 竺红卫 |
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| 作者单位： | 1. 杭州电子科技大学,微电子CAD研究所,浙江,杭州,310018
2. 浙江大学VLSI设计研究所,浙江,杭州,310027 |
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| 摘 要： | 随着集成电路技术的飞速发展,人们对集成电路产品的可靠性要求越来越高,这就要求集成电路测试特别是故障诊断提出了更高的要求.基于扫描的故障诊断方法是广泛应用的故障诊断方法之一.介绍基于扫描的集成电路故障诊断方法,并详细介绍了一种改进的扫描诊断方法和一种基于扫描的全速诊断方法.
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| 关 键 词： | 故障诊断 扫描诊断 全速诊断 |
Scan-based Fault Diagnosis Technique for IC Testing |
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| TAO Lifang,MA Qi,ZHU Hongwei. Scan-based Fault Diagnosis Technique for IC Testing[J]. Modern Electronic Technique, 2009, 32(1) |
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| Authors: | TAO Lifang MA Qi ZHU Hongwei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IDDQ IDDT |
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