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红外焦平面阵列坏元检测算法
引用本文:李炎冰,梁少峰,陈洪亮,雷波.红外焦平面阵列坏元检测算法[J].电光与控制,2015,22(3):69-71.
作者姓名:李炎冰  梁少峰  陈洪亮  雷波
作者单位:1. 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所,河南洛阳,471000
2. 空装重点型号部,北京,100843
摘    要:红外焦平面阵列器件因为制造材料、工艺的影响,难免存在坏元问题,降低了红外图像的质量,影响检测系统的检测概率和虚警率。描述了坏元的特性,分析了其产生机理,利用其特点给出了多帧分析检测坏元的算法。仿真结果表明,该方法简洁可靠,易于实现。最后利用中值滤波法将检测到的坏元进行了补偿。

关 键 词:红外焦平面阵列  坏元检测  坏元补偿

A Bad-Pixel Detection Algorithm for Infrared Focal Plane Array
LI Yan-bing , LIANG Shao-feng , CHEN Hong-liang , LEI Bo.A Bad-Pixel Detection Algorithm for Infrared Focal Plane Array[J].Electronics Optics & Control,2015,22(3):69-71.
Authors:LI Yan-bing  LIANG Shao-feng  CHEN Hong-liang  LEI Bo
Affiliation:LI Yan-bing;LIANG Shao-feng;CHEN Hong-liang;LEI Bo;Luoyang Institute of Electro-Optical Equipment,AVIC;Air Force Armament Department;
Abstract:
Keywords:infrared focal plane array  bad pixel detection  bad pixel compensation
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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