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2.5D系统封装中高速I/O链路信号/电源完整性协同仿真
引用本文:孙亮,缪旻,李涛.2.5D系统封装中高速I/O链路信号/电源完整性协同仿真[J].固体电子学研究与进展,2023(3):234-240.
作者姓名:孙亮  缪旻  李涛
作者单位:1. 北京信息科技大学信息与通信系统信息产业部重点实验室;2. 北京信息科技大学光电测试技术及仪器教育部重点实验室;3. 北京信息科技大学智能芯片与网络研究中心
基金项目:国家自然科学基金资助项目(62074017);
摘    要:提出了一种2.5维(2.5D)系统封装高速输入/输出(I/O)全链路的信号/电源完整性(Signal integrity/power integrity,SI/PI)协同仿真方法。首先通过电磁全波仿真分析SiP内部“芯片I/O引脚-有源转接板-印刷电路板(即封装基板)-封装体I/O引脚”这一主要高速信号链路及相应的转接板/印刷电路板电源分配网络(Power distribution network,PDN)的结构特征和电学特性,在此基础上分别搭建对应有源转接板和印刷电路板两种组装层级的“信号链路+PDN”模型,并分别进行SI/PI协同仿真,提取出反映信号链路/PDN耦合特性的模块化集总电路模型,从而在电路仿真器中以级联模型实现快速的SI/PI协同仿真。与全链路的全波仿真结果的对比表明,模块化后的协同仿真有很好的可信度,而且仿真时间与资源开销大幅缩减,效率明显提升。同时总结了去耦电容的大小与布局密度对PDN电源完整性的影响及对信号完整性的潜在影响,提出了去耦电容布局优化的建议。

关 键 词:2.5D系统封装  信号完整性  电源完整性  协同仿真  电源分配网络  高速I/O链路  芯粒
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