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稀土Dy掺杂对ZnO,CdO和SnO2薄膜性能的影响
引用本文:韩菲,李健.稀土Dy掺杂对ZnO,CdO和SnO2薄膜性能的影响[J].半导体技术,2014,39(12).
作者姓名:韩菲  李健
作者单位:燕京理工学院机电工程学院,河北廊坊065201;内蒙古大学物理科学与技术学院,呼和浩特010021
摘    要:用热蒸发法和热处理制备稀土Dy掺杂金属氧化物CdO,ZnO和SnO2薄膜,研究不同Dy掺杂浓度及热处理对3种薄膜性能的影响。XRD和SEM测试结果显示:适当的Dy掺杂和热处理可改善薄膜的结构特性,使薄膜表面的致密性变好。CdO,ZnO和SnO2薄膜的最佳掺Dy原子数分数为5%,5%和3%。掺Dy后Cd O,ZnO和SnO2薄膜的导电类型均为n型,电阻值降低约一个数量级。Dy掺杂使得薄膜的致密性增加而导致光透过率降低。制备的薄膜都是直接带隙半导体,相应的光学带隙:Cd O约2.232 eV,CdO∶Dy(Dy原子数分数5%)的略增为2.241 e V,ZnO薄膜约为3.31 eV;ZnO∶Dy(Dy原子数分数5%)约3.25 eV,SnO2薄膜约3.07 eV,SnO2∶Dy(Dy原子数分数3%)约3.03 eV。

关 键 词:热蒸发  CdO  ZnO  SnO2  薄膜  稀土Dy掺杂  热处理
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