多层介质电容失效分析 |
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引用本文: | 刘相伍,谭永亮,崔玉兴,付兴昌.多层介质电容失效分析[J].半导体技术,2014,39(7). |
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作者姓名: | 刘相伍 谭永亮 崔玉兴 付兴昌 |
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作者单位: | 河北半导体研究所,石家庄050051;河北半导体研究所,石家庄050051;河北半导体研究所,石家庄050051;河北半导体研究所,石家庄050051 |
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摘 要: | 针对GaAs MMIC因电容失效而导致性能异常的问题,分析了电容失效模式及失效机理。对GaAs MMIC中多层介质电容的制作过程进行了重点监控,分析了电子束蒸发工艺缺陷对多层介质电容失效的影响。基于扫描电子显微镜(SEM)及能谱仪(EDX)分析,研究了电容基板金属颗粒对电容失效的影响。结果表明,电子束蒸发工艺产生的金属颗粒造成短路是电容主要失效模式。蒸发难熔金属时,在金属源形成的深坑导致蒸发速率瞬时增大,产生的大量金属颗粒造成电容极板短路,从而导致电路性能异常。最后,对金属蒸发工艺参数进行优化,采用分段蒸发增加熔源过程的方法降低了电容失效率。
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关 键 词: | 多层介质电容 电子束蒸发 难熔金属 失效率 金属颗粒 |
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