| 红外检测中缺陷大小和深度的测量 |
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| 引用本文： | 王永茂,郭兴旺,李日华. 红外检测中缺陷大小和深度的测量[J]. 激光与红外, 2002, 32(6): 404-406 |
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| 作者姓名： | 王永茂 郭兴旺 李日华 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京,100083 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助 (E0 5 0 2 0 40 2 ) |
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| 摘 要： | 文中介绍了红外层析检测的基本原理，重点讲述了缺陷深度和缺陷大小的测量方法。
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| 关 键 词： | 红外检测 缺陷大小 测量 热层析 无损检测 缺陷深度 |
| 文章编号： | 1001-5078(2002)06-0404-03 |
| 修稿时间： | 2002-04-15 |
Measuring Defect Diameter and Depth in Infrared Testing |
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| WANG Yong mao,GUO Xing wang,LI Ri hua. Measuring Defect Diameter and Depth in Infrared Testing[J]. Laser & Infrared, 2002, 32(6): 404-406 |
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| Authors: | WANG Yong mao GUO Xing wang LI Ri hua |
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| Abstract: | The paper introduces the basal theory of Infrared Thermal tomography testing. It puts emphasis on methods of measuring defect diameter and depth. |
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| Keywords: | infrared testing thermal tomography nondestructive testing |
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