| 电子产品无失效数据时的统计分析 |
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| 引用本文： | 彭求实.电子产品无失效数据时的统计分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2008,26(1):17-20. |
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| 作者姓名： | 彭求实 |
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| 作者单位： | 广东商学院数学与计算科学系,广东,广州,510320 |
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| 摘 要： | 在电子产品的可靠性寿命试验中,如果产品本身的质量很好,或者受试验时间和费用等条件的限制,则有可能出现"无失效数据"的情况.针对这种情况,引进失效信息,在先验分布为Gamma分布时,对失效率进行了多层Bayes估计,并结合实际问题进行了计算.
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| 关 键 词： | 电子产品 无失效数据 指数分布 失效率 贝叶斯估计 电子产品 无失效数据 统计分析 Products Electronic Data Analysis 计算 问题 结合 估计 Bayes 失效率 先验分布 Gamma 失效信息 情况 条件 试验时间 质量 |
| 文章编号： | 1672-5468（2008）06-0017-04 |
| 收稿时间： | 2007-09-04 |
| 修稿时间： | 2007-12-24 |
Statistical Analysis about Zero-failure Data of Electronic Products |
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| PENG Qiu-shi.Statistical Analysis about Zero-failure Data of Electronic Products[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2008,26(1):17-20. |
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| Authors: | PENG Qiu-shi |
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| Abstract: | The situation of zero-failure data may occur in the reliability life test of an electronic product when it has a high quality or the test time and fund are limited. In this case, when the prior distribution is Gamma distribution, the hierarchical Bayesian estimation for the failure rate is perfermed after introducing the failure information and calculation is carried out regarding to the practical problem. |
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| Keywords: | electronic product zero-failure exponential distribution failurerate Bayesian estimation |
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