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液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用
引用本文:索金亮,朱忠发,王彬,樊成,张俊,黄助兵.液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用[J].液晶与显示,2023(4):479-487.
作者姓名:索金亮  朱忠发  王彬  樊成  张俊  黄助兵
作者单位:合肥京东方显示技术有限公司
摘    要:晕开缺陷(Particle Gap)是液晶面板常见缺陷之一,在工业生产中需要准确评价缺陷的严重等级。传统评价方法存在准确率低、误差大的问题。本文基于Particle Gap缺陷的形态与颜色特征,利用Photo Shop软件设计了Particle Gap电子限度样本,提高了缺陷等级评价的准确率。首先根据形态将缺陷分为4类,通过色彩分析仪分析发现圆形有核和圆形无核两类缺陷的颜色呈各向同性,从中心向边缘分为均匀渐变和非均匀渐变两类;然后建立了Particle Gap电子限度样本模型,经过对比实验找出了不同等级之间精准的电子限度样本;最后分析得出Particle Gap色域范围为色相H∈30°,45°],饱和度S∈2%,56%],明度B∈15%,66%]。随着缺陷由轻变重,色相总体呈减小趋势,饱和度逐渐增大,明度先升高后降低,为制作与修订电子限度样本提供了参考。该限度样本应用于H公司面板检测工序后,Particle Gap等级准确率提高7.1%以上,因错检造成的产品和材料损失显著降低,在缺陷检测领域具有重大应用价值。

关 键 词:Particle  Gap缺陷  限度样本  HSB颜色值  检测准确率
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