| 基于荧光磁粉图像的缺陷检测技术 |
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| 引用本文： | 初延亮,肖宇峰,刘桂华,张华. 基于荧光磁粉图像的缺陷检测技术[J]. 微型机与应用, 2014, 0(20): 32-34 |
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| 作者姓名： | 初延亮 肖宇峰 刘桂华 张华 |
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| 作者单位： | 西南科技大学 信息工程学院 特殊环境机器人技术四川省重点实验室,四川 绵阳,621010 |
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| 摘 要： | 荧光磁粉无损检测因具有缺陷显示直观、灵敏度高、检测速度快且成本低等优点而被广泛采用。在分析工件表面缺陷的荧光磁粉图像显示特性基础上,研究缺陷图像的平滑去噪和分割等处理算法,提出基于加权模板和自适应邻域选择的图像平滑算法,并将Ridler自适应阈值法应用于缺陷图像分割。实验结果表明,此种方法能够很好地去除伪缺陷,将图像中工件的真实缺陷从背景区域中完整地提取出来,为荧光磁粉自动化无损检测打下良好的基础。
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| 关 键 词： | 荧光磁粉检测 加权模板 自适应邻域选择 Ridler自适应阈值 |
Defect detecting technology based on fluorescent magnetic image |
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| Chu Yanliang,Xiao Yufeng,Liu Guihua,Zhang Hua. Defect detecting technology based on fluorescent magnetic image[J]. Microcomputer & its Applications, 2014, 0(20): 32-34 |
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| Authors: | Chu Yanliang Xiao Yufeng Liu Guihua Zhang Hua |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | fluorescent magnetic examination weigh tedtemplate adaptive neighborhood selection Ridler adaptive threshold |
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