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分类号
杂志ISSN号
基于MARCH算法的SRAM内建自测试设计
作者姓名:
张铜
成本茂
张小锋
作者单位:
南昌航空大学信息与工程学院
摘 要:
随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要,但是测试是FPGA设计中费用最高、难度最大的一个环节。由于片上系统的快速发展,ATE的速度及其存储量已经不能满足测试的要求,因此出现了内建自测试技术。本研究的主要目的是实现一个对32个单元、每个单元8比特大小的SRAM测试的BIST,采用的测试方法为MARCH算法。在设计中采用的是Verilog语言,用QautusⅡ9.0软件对设计进行仿真,并对仿真结果进行分析判断。
关 键 词:
内建自测试
MARCH算法
QautusⅡ9.0
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