| 厚膜导带材料微波性能的研究 |
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| 引用本文： | 刘宗科,候国栋.厚膜导带材料微波性能的研究[J].电讯技术,1989,29(3):1-7. |
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| 作者姓名： | 刘宗科 候国栋 |
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| 作者单位： | 机电部第十研究所，机电部第十研究所 研究生，指导老师，高级工程师 |
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| 摘 要： | 本文讨论了国产厚膜导体材料的微波性能。用国产Au浆料和Pd—Ag浆料,通过传统的厚膜工艺,在99％Al_2O_3陶瓷基片上制作了一组特性阻抗为50欧姆的微带线。用薄膜技术制作了几条和厚膜微带线一样的薄膜微带线。使用HP8410S网络分析仪测出了频率在2～12GHz范围内各条微带线的散射参数的幅度和相位。对微带线的损耗测量值和理论值进行了比较。用台阶测试仪测绘出了微带线中心导体的截面膜厚分布图。实验结果表明:在频率8GHz下,国产Au厚膜微带线的损耗和薄膜微带线的损耗几乎相等。另外,用国产Au浆料制作了一个3dB分支线定向耦合器,器件的性能良好。
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| 关 键 词： | 集成电路 微波 厚膜工艺 微带线 |
Microwave behavior of thick film conductor materials |
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| Graduate Student Liu Zongke,Senior Engineer Hou Guodong The Tenth Research Institute of Ministry of the Machine-Building & Electronics Industry.Microwave behavior of thick film conductor materials[J].Telecommunication Engineering,1989,29(3):1-7. |
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| Authors: | Graduate Student Liu Zongke Senior Engineer Hou Guodong The Tenth Research Institute of Ministry of the Machine-Building & Electronics Industry |
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| Affiliation: | Graduate Student Liu Zongke;Senior Engineer Hou Guodong The Tenth Research Institute of Ministry of the Machine-Building & Electronics Industry |
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