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大口径光学件误差均化拼接技术
引用本文:程刚,蒋世磊.大口径光学件误差均化拼接技术[J].光电工程,2006,33(6):118-120,129.
作者姓名:程刚  蒋世磊
作者单位:中国矿业大学,机电工程学院,江苏,徐州,221008;中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209
摘    要:运用子孔径检测及拼接的方法可完成大口径光学件面形的干涉测量。为了能够减少子孔径拼接的误差累积与数据处理算法带来的精度影响,运用子孔径拼接的误差拼接算法,并通过对实验检测数据的处理,得到拼接结果与全孔径检测结果比较,面形波面峰谷值相差0.0842,均方根值相差0.01λ,误差在Veeco光学干涉测量仪器的公差范围内。实验结果验证了误差均化算法可有效减少误差的传递与累积,实现子孔径拼接技术对大口径光学件的正确检测。

关 键 词:子孔径拼接  大口径光学件  误差均化法  面形测量
文章编号:1003-501X(2006)06-0018-03
收稿时间:2005-09-19
修稿时间:2005-09-192005-12-09

Large aperture optical components of stitching technique by error averaging
CHENG Gang,JIANG Shi-lei.Large aperture optical components of stitching technique by error averaging[J].Opto-Electronic Engineering,2006,33(6):118-120,129.
Authors:CHENG Gang  JIANG Shi-lei
Affiliation:1. College of Mechanical and Electrical Engineering, China University of Mining and Technology, Xuzhou 221008, China; 2. The Institute of Optics and Electronics, the Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610209, China
Abstract:
Keywords:Sub-aperture stitching  Large aperture optical components  Error averaging method  Surface shape measurement
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