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| LDO芯片CP通用测试方法研究 | |
| 作者单位： | ;1.中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 摘 要： | 介绍了LDO(线性稳压器)的通用测试方法。基于长川CTA8280测试系统,通过对芯片CP(圆测试)要求进行分析,设计了某款LDO芯片的测试外围,实现了对该LDO芯片功能与性能的测试。该方案能够作为通用测试方法供LDO芯片测试设计参考。 |
Research on General CP Test Method of LDO Chip |
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| Abstract: | |
| Keywords: | LDO CTA8280 CP 熔丝 |